光學投影儀EP2010測量儀產品的特點是：高精設，測量示值誤差達(3+L/100)um,L為被測量長度(單位：mm)；在透射光照明下，輪廓測量誤差小于0.08%.EP-1隨機已經配備ES-10P多功能數(shù)據處理電子尺系統(tǒng)，并配有的微型打印機，可將測量結果打印出來。

產品型號：

更新時間：2024-08-16

廠商性質：經銷商

訪問量：2949

服務熱線

0574-86861636

立即咨詢

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

影像測量儀

全自動影像測量儀一鍵圖像尺寸測量儀三維激光掃描儀

查看全部產品

分析什么是二次元影像測量儀數(shù)據不確定度

影像測量儀檢測系統(tǒng)中的CCD誤差分析及修正

產品介紹

光學投影儀EP2010測量儀
光學投影儀EP2010測量儀,適用于精密工業(yè)如橫具、工具、螺絲、齒輪、鐘表、自動車床加工、光學部件、航空等等工業(yè)的制造、設計開發(fā)、品管檢驗與學術研究用途。
高精密光學投影儀EP-1,是集光學，精密機械，電子測量于一體化的精密測量儀器，用于對高精度工作或模具作尺寸、長度、形狀、輪廓之精密放大投影檢查，測量比對和測量結果的列表記錄。
高精密光學投影儀EP-1 2010的特點是：高精設，測量示值誤差達（3+L/100）um,L為被測量長度（單位：mm）；在透射光照明下，輪廓測量誤差小于0.08%.
高精密,隨機已經配備ES-10P多功能數(shù)據處理電子尺系統(tǒng)，并配有的微型打印機，可將測量結果打印出來。
幾何測量功能
三點求圓；點測量；兩點求距離；兩點合成線；兩線求交角及交點；四點求交角及交點；線上垂直投點。
高精密，產品的技術參數(shù)：

顯示軸數(shù)	X，Y軸為線性電子尺、A軸為角度編碼器
分辨率	0.001mm（X,Y軸）/0.01度（A軸）
座標顯示	X ,Y坐標/極座標顯示
記憶功能	99組幾何測試結果記憶,10組測量座標
誤差修正功能	線性誤差修正，非線性誤差修正
數(shù)據輸出接口	RS-232C數(shù)據輸出接口
幾何測量功能	*三點求圓
	*點測量
	*兩點求距離
	*兩點合成線
	*兩點求交角及交點
	*四點求交角及交點
	*線上垂直投點

型號		EP-1510		EP-2010	EP-2515
工作臺	金屬工作臺面尺寸	300×170mm		350×170mm	420×250mm
	玻璃臺面尺寸	175×127mm		225×120mm	290×190mm
	X坐標行程	150mm		200mm	250mm
	Y坐標行程	100mm		100mm	150mm
	Z坐標行程	90mm
	X,Y坐標數(shù)顯分辨率	0.001mm
	軸向測量精度	（3+L/100）um
投影屏	投影旋轉范圍	0~360度
	旋轉角度數(shù)頁分辨率	0.01度
	平面及表面輪廓精度	0.08%
	投影屏尺寸	直徑315mm			直徑415mm
物鏡	放大倍率（任選其一）	10×	20×	50×	10×	20×	50×
	物方視場范圍（直徑）	30mm	15mm	6mm	40mm	20mm	8mm
	物方工作距	75mm	35mm	15mm	81mm	71mm	65mm